Российские ученые разработали новую технику измерения тонких пленок
Специалисты Научно-технологического центра уникального приборостроения (НТЦ УП) РАН и Института ядерной физики имени Г. И. Будкера Сибирского отделения РАН разработали новую технику измерения оптической толщины тонких пленок и покрытий, что позволит быстрее и тщательнее изучать их свойства и совершенствовать процесс изготовления, сообщила пресс-служба Минобрнауки России.